Ellipsometrie an Pentacen und Tetracen Dünnfilmenund Einkristallen

Die vorliegende Arbeit stellt erstmalig ellipsometrische Untersuchungen der intrinsischen, optischen Eigenschaften von triklinen Pentacen- und Tetracen-Einkristallen entlang deren kristallographischen Achsen vor. Dabei wurden die dielektrischen Funktionen eps1 und eps2 für Pentacen und Tetracen in Richtung der kristallographischen Achsen bestimmt. Die optischen Spektren erlauben einen direkten Vergleich mit dielektrischen Funktionen aus theoretischen Bandstrukturrechnungen.Die Arbeit gibt erstmalig einen umfassenden Überblick über die optischen und strukturellen Eigenschaften eines der aussichtsreichsten Kandidaten für zukünftige organische Feldeffekttransistoren. Mit der Beschreibung des vollständigen Dielektrizitätstensors erschließt die Methode ein neues Feld der optischen Charakterisierung monokliner und trikliner Kristalle. Zusätzlich zu den Kristallen wurden Dünnfilme dieser Materialien untersucht.

Autorentext
Dr. Daniel Faltermeier geb. 16.07.1976 in Stuttgart Bad-Cannstat 1996 Abitur 1997 - 2004 Studium der Physik an den Universitäten Heidelberg und Stuttgart 2004 - 2007 Promotion in Physik am 1. Physikalischen Institut der Universität Stuttgart

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